導(dǎo)讀
碳納米管水平陣列被廣泛認(rèn)為是下一代集成電路極具潛力的候選材料。然而,如何精確調(diào)控碳納米管管徑以滿(mǎn)足先進(jìn)制程的需求,是該領(lǐng)域關(guān)注的熱點(diǎn)問(wèn)題。近日,北京大學(xué)張錦院士課題組提出了一種“硫修飾藍(lán)寶石(S-apphire)”的界面工程策略。該研究以?xún)?nèi)聚能作為催化劑分散性描述符,在不損害碳納米管水平陣列生長(zhǎng)密度、定向性的前提下,成功實(shí)現(xiàn)了催化劑粒徑與碳納米管管徑的精準(zhǔn)調(diào)控,并構(gòu)建出具有極高開(kāi)關(guān)比的場(chǎng)效應(yīng)晶體管。相關(guān)成果于7月20日在線(xiàn)發(fā)表于美國(guó)化學(xué)會(huì)志(Journal of the American Chemical Society)。
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突破管徑調(diào)控與高密度生長(zhǎng)的兼容瓶頸
半導(dǎo)體型碳納米管的帶隙直接決定了晶體管的開(kāi)關(guān)性能,而帶隙大小取決于管徑。面向3 nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)的要求,相關(guān)研究建議需將碳納米管管徑控制在1.3 nm左右為宜。化學(xué)氣相沉積是制備碳納米管水平陣列的主流方法。但在高溫生長(zhǎng)環(huán)境下,催化劑容易發(fā)生團(tuán)聚、燒結(jié),難以調(diào)控碳納米管管徑。
現(xiàn)有的調(diào)控策略往往面臨顧此失彼的困境:在調(diào)控管徑的同時(shí)可能會(huì)破壞催化劑或藍(lán)寶石載體的結(jié)構(gòu),導(dǎo)致碳納米管水平陣列密度或定向性降低。因此需要在這一體系中引入新的變量,以兼容于已有的催化劑和藍(lán)寶石載體。
硫修飾調(diào)控內(nèi)聚能,改變催化劑-載體相互作用
面對(duì)這一難題,研究團(tuán)隊(duì)深入分析碳納米管生長(zhǎng)機(jī)理,碳納米管管徑由液態(tài)催化劑粒徑?jīng)Q定,管徑調(diào)控的核心是粒徑調(diào)控。進(jìn)而,研究團(tuán)隊(duì)從單原子催化的相關(guān)研究中獲得靈感,引入了內(nèi)聚能(Ecoh)這一物理量,用以定量描述金屬催化劑的團(tuán)聚燒結(jié)與錨定于載體之間的競(jìng)爭(zhēng)關(guān)系,較大的內(nèi)聚能預(yù)示著更大的催化劑粒徑。
基于此,研究團(tuán)隊(duì)提出了硫修飾藍(lán)寶石策略:通過(guò)在藍(lán)寶石載體表面進(jìn)行硫修飾,選擇性地改變金屬催化劑的內(nèi)聚能。其原理為:若硫修飾降低了某金屬的內(nèi)聚能,載體對(duì)其的錨定作用會(huì)強(qiáng)于金屬原子自身的團(tuán)聚傾向,從而使催化劑保持在更小的粒徑,進(jìn)而生長(zhǎng)出管徑更小的碳納米管。
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S-apphire策略的核心機(jī)制:以?xún)?nèi)聚能為熱力學(xué)描述符,精準(zhǔn)調(diào)控催化劑納米粒子粒徑,并進(jìn)一步調(diào)控碳納米管管徑。
碳納米管生長(zhǎng)與相關(guān)機(jī)理研究
在隨后的碳納米管生長(zhǎng)實(shí)驗(yàn)中,硫修飾后碳納米管的管徑變化趨勢(shì)與內(nèi)聚能的計(jì)算預(yù)測(cè)高度一致。經(jīng)硫修飾后,F(xiàn)e和Ti催化劑生長(zhǎng)的碳納米管管徑減小,而Pt催化劑生長(zhǎng)的碳納米管管徑增大。需要注意的是:使用Ti催化劑生長(zhǎng)的碳納米管水平陣列平均管徑從1.57 nm減小至1.26 nm,這一管徑高度契合了碳納米管器件3 nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)的需求。同時(shí),硫修飾后催化生長(zhǎng)的碳納米管依然保持著高密度與優(yōu)異的定向性。
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碳納米管生長(zhǎng)結(jié)果符合內(nèi)聚能預(yù)測(cè),且碳納米管密度、定向性不受影響,保持低缺陷密度
進(jìn)一步,研究團(tuán)隊(duì)通過(guò)系列表征手段證實(shí)了上述機(jī)理:硫原子摻雜不破壞藍(lán)寶石原有的晶體結(jié)構(gòu),進(jìn)而保證了碳納米管的定向性;另一方面,硫原子傾向于錨定于載體,而非進(jìn)入催化劑,保證了催化劑的結(jié)構(gòu)和功能不受影響。
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硫修飾藍(lán)寶石的機(jī)理研究
管徑調(diào)控賦能高性能晶體管
碳納米管的管徑控制為碳基器件性能的提升奠定了材料基礎(chǔ)。利用平均管徑為1.26 nm的碳納米管水平陣列,研究團(tuán)隊(duì)制備了頂柵場(chǎng)效應(yīng)晶體管用以驗(yàn)證材料性能。管徑的減小增大了碳納米管帶隙。電學(xué)測(cè)試結(jié)果表明,基于S-apphire策略生長(zhǎng)的碳納米管水平陣列制備出的場(chǎng)效應(yīng)晶體管展現(xiàn)出優(yōu)異的開(kāi)關(guān)性能,其開(kāi)關(guān)比逼近107。相比之下,未作管徑控制的器件(管徑約1.5 nm)最高開(kāi)關(guān)比僅為105,改研究有效克服了碳納米管水平陣列場(chǎng)效應(yīng)晶體管長(zhǎng)期以來(lái)在高載流子遷移率與高開(kāi)關(guān)比之間存在的性能權(quán)衡。
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碳納米管水平陣列場(chǎng)效應(yīng)晶體管的組裝及其電學(xué)性能測(cè)試,器件開(kāi)關(guān)比實(shí)現(xiàn)了大幅提升,在與現(xiàn)有文獻(xiàn)數(shù)據(jù)的對(duì)比中展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢(shì)。
總結(jié)與展望
該研究不僅解決了碳納米管水平陣列中管徑控制制備的技術(shù)瓶頸,為高性能碳基集成電路提供了堅(jiān)實(shí)的材料基礎(chǔ);其建立的以?xún)?nèi)聚能為描述符的界面相互作用調(diào)控框架,也為多相催化及其他納米材料的結(jié)構(gòu)控制制備提供了一套普適的研究路徑。
論文信息
論文的第一作者是北京大學(xué)化學(xué)與分子工程學(xué)院2024級(jí)博士研究生王建平。通訊作者是北京大學(xué)錢(qián)柳、趙曉續(xù)、司佳、張錦教授。研究得到了國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃、國(guó)家自然科學(xué)基金、北京分子科學(xué)國(guó)家研究中心及深圳市科技創(chuàng)新委員會(huì)的資助。
論文標(biāo)題:Diameter-Controlled Synthesis of Horizontally Aligned Carbon Nanotube Arrays via S-Apphire Interface Engineering
原文鏈接:https://doi.org/10.1021/jacs.6c08950
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